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| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 |
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Taylor Surtronic S128-技術參數詳解
篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。
Surtronic S100系列取代了舊的Taylor Hobson型號Surtronic 25，Surtronic 3+和Surtronic 3P，Surtronic S100系列中的型號Surtronic S128便攜式表面光潔度計為您的粗糙度測量要求提供了多功能的解決方案。功能包括大型加固顯示器，長壽命電池和簡單的菜單結構。 Surtronic可以獨立使用（水平，垂直或甚至倒置的表面）或臺式安裝，用于分批表面粗糙度測量和實驗室應用。
- 具有直角連接和超過70mm觸針的50mm觸控筆提升可以確保即使是挑戰性的表面也可以測量，而無需昂貴的固定。防滑V形腳允許將Surtronic用于平面或曲面。
- Surtronic S100非常耐用，具有耐沖擊的橡膠模制件，圍繞凹陷，高耐用性的觸摸屏。
- 防滑V型腳可使Surtronic粗糙度檢查器在平面或曲面上使用
Talyprofile Lite軟件作為標準配置，提供表面處理分析*，自動模板，圖形和易于使用的桌面出版。
Taylor Surtronic S128-技術參數詳解
特征：
多個表面粗糙度參數選項，以適應您的應用
堅固的顯示：每頁zui多7個參數加圖
測量周期快
*的觸控筆提升機構，具有*的靈活性
長橫移長度和延長接收距離
內置存儲 - 多達100組表面粗糙度測量結果以及USB端口，實現*連接
耐用的可充電電池 - 從單次充電可達2000次測量
表面處理參數適合您的應用：
Surtronic S100可以根據您的測量應用計算各種表面光潔度參數，包括：
幅度參數（測量表面偏差的垂直特性）：
Ra（算術平均偏差，以前稱為CLA或AA）
Rsk（Skewness）
Rz（平均峰谷高度）
Rv（取樣長度內平均線以下的zui大剖面深度）
Rt（輪廓總高度）
Rp（zui大輪廓峰高）
Rz1max（也稱為Ry或Rmaz）（Max Peak to valley）
間距參數（測量表面偏差的水平特征）：
RPc（峰值計數）
RSm（輪廓元素的平均寬度）
混合參數（間距和振幅參數的組合）：
Rmr（材料比）
Rdq - R Delta q（采樣長度內輪廓的均方根斜率）
上述參數涵蓋了檢查潤滑，進料速率，應力，摩擦和磨損性能的zui常見要求。
